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AN05-M406753超声测厚仪（USB）中西器材
超声测厚仪（USB）中西器材 型号:AN05-M406753库号：M406753
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型号:CN61M- NDT310超声波测厚仪 型号:CN61M- NDT310
超声波测厚仪 型号:CN61M- NDT310 CN61M- NDT310仪器是智能型超声波测厚仪，采用的、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作测量。本仪器可应用于石油、化工、冶金、造船、航空、
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M244099玻璃瓶壁厚底厚仪（双测头） 型号:KB01-HD-10B
玻璃瓶壁厚底厚仪（双测头） 型号:KB01-HD-10B 库号：M244099 查看hh 专业适用于玻璃包装生产企业与使用单位对包装玻璃瓶底厚和壁厚的检验。 专业技术 系统整体采用304不锈钢和铝材，大大提高仪器的防锈与性能。 采用双测量头和双测量仪表，一机两用，使用更加方便、性价比更高。 仪器所配夹具与测量杆设计科学合理，加工工艺质量高，大大提高了仪器精度。 系统配置数显表
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M395210电子式玻璃瓶壁厚底厚测定仪 型号:61M/39521
电子式玻璃瓶壁厚底厚测定仪 型号:61M/395210 库号：M395210 查看hh midwest-group 玻璃瓶测厚仪是采用一种新型的磁性测量原理：在被测的玻璃瓶罐内放入一粒钢珠，当被测瓶罐内的钢珠靠近仪器上的测量探头时，测量头上磁场的引力把钢珠吸在瓶罐的内壁上。这时钢珠与测量头之间的距离是被测的厚度，该厚度与该磁场的作用强度成反比关系，通过内部单片机系统测量该磁场强度并矫正线
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型号:CN61M/Upad X300超声波测厚仪 型号:CN61M/Upad X300
超声波测厚仪 型号:CN61M/Upad X300 穿透涂层测厚 强大的穿透涂层测厚功能使您免除辛苦打磨的繁琐准备工作，只需略微处理涂层表面可以实现轻松测厚 无需标准试块，探头零点自动校准 的探头零点实时自动校准技术，跟踪潮流。免除您手动校准探头零点的烦恼，更解决了探头零点漂移造成的测量误差，保证测值准确,摆脱对标准试块的依赖。 U盘存储，即插即用 USB接口可插入U盘，无需
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型号:CN61M/SJ-1204金刚石接触式测厚仪 （不带AGC）型号:CN61M/SJ-1204
金刚石接触式测厚仪 （不带AGC）型号:CN61M/SJ-1204 ◆测量范围： 0.050～4.000mm（Z大6.000 mm）。 ◆测量精度： ±（0.001+0.1%×H）mm（H = 带材厚度）。 ◆传感器精度： ±0.001mm。 ◆传感器分辨率： 0.0005mm。 ◆显示分辨率： 0.001mm。 ◆显示方式: 直读/偏差。（可逆预置10组60个厚度值）。 ◆可逆轧制： 两台
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M334408铝膜测厚仪 型号:M334408
铝膜测厚仪 型号:M334408 库号：M334408 查看hh 本产品主要适用于薄膜、纸张等非金属软包装材料上铝层厚度的测量，随着新型包装材料的发展，要求阻透性薄膜上真空沉积大约35nm的铝涂敷层，因而极大提高了薄膜对气体的阻透性，铝膜的厚度直接影响膜阻透性，因而测试和控制铝膜厚度尤为重要，该产品调整参数还可对金、银等其他金属涂层的测量。 本产品按照GBT4957-2003涡流
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M343728涂层测厚仪 型号:BD05-QNix 4200 库号：M343728
涂层测厚仪 型号:BD05-QNix 4200 库号：M343728 QNix 4200 涂层测厚仪主要特点 只需调零、无需校准 Fe探头 一本化设计 自动开关机 单探头量程达3000μm 直角设计方便测量沟漕 参数： 型号 QNix 4200 涂层测厚仪 基体 Fe 显示 LCD数字显示 测量范围 0－3000μm 测量精度 0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1
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库号：M396001双基涂层（铁基铝基）测厚仪
测厚仪/双基涂层（铁基铝基）测厚仪 型号:AM82-WH82库号：M396001
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