涂层测厚仪/漆膜仪 型号:JK770-LS236
技术参数显示屏液晶屏+OLED耐低温屏主机尺寸100* 60* 24mm重量(含电池)80g测头红宝石
测量原理Fe:霍尔效应/NFe:电涡流效应探头类型内置-体式测量范围0.0um - 2000μm0.1μm: (0um-99.9μm)分辨率1μm: (100μm- 999μm)0.01mm: (1.00mm-2.00mm)测量精度≤土(39%读数+2μm)单位.μm/ mil测量间隔0.5S小测量区域0=25mm小曲率半径凸面: 5mm/凹面: 25mm小基体厚度Fe: 0.2mm/NFe: 0.05mm供电方式2节1.5V AAA碱性电池工作温度范围-20°C~50°C-40°C~50°C储存温度范围-20°C~60°C-50°C~60°C
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第15年