两探针电阻率测试仪 型号:KDY-2

库号：M406120 
如果需要现场调试，另外再加xxxx元（详询），
款到5个工作日内发货


项目 技术参数
电阻率测试范围 0.001～6000Ω·cm
用途 可测硅芯尺寸
测量方式 纵向测量，电流可正反向测量
整机测量精度 B.41-1000Ω·cm范围内≤3%
电器测量精度 1-1000Ω范围内≤0.3%
电压表
A.量程0~199.99 mV；
B.基本误差±(0.004%读数+0.01%满度)；
C.输入阻抗﹥1000MΩ；
D. 4 1/2位数字显示，0～19999。
恒流源
A.电流输出：直流电流0.003～100 mA连续可调，由交流电源供给；
B.量程：0.01 mA，0.1 mA，1 mA，10 mA，100 mA五档；
C.恒流源精度：各档均≤±0.05%；
D.测量电流电流：可正反向测量。
两探针测试探头
A.探头间距1.59㎜；
B.探针机械游率：±0.3%；
C.探针直径0.8㎜；
D.探针合力6±1N，探针压痕直径：25 -50μm；
E.探针材料：碳化钨，探针间及探针与其他部分之间的绝缘电阻于109欧姆。
测试架 晶体zui可测长度：≈3米，直径4-15 mm；
探针头沿晶体纵向移动距离：300mm。
测量系统 对四探针、两探针电阻率测量数据进行处理并修正测量数据，特定数据存储格式，显示变化曲线。
兼容性：适用于通用电脑，支持Windows XP。