便携式三维磁通门计 仪表
概述该磁通门计可以为您带来WEI弱磁场(nT-级)测量体验,为科研、工业检测等提供数据支持。三维磁通门计采用磁通门传感器技术,可以捕捉WEI弱磁场变化。搭配硬件电路。数字电路部分选用 ARM Cortex 架构 32 位WEI控制器处理芯片,具备内存架构。模拟电路采用 ULLASS 技术,实现WEI弱信号的采集。高清DA屏以细腻色彩还原数据细节,宽|广|视角无惧强|光干扰,指尖轻触|即|可完成各项功能设置与数据读取。技术参数 尺寸(长×宽×高) 195 mm×90 mm×40mm维度 3显示单位 nT、μT、mGs分辨率 0.1nTDC 量程(可选) ±100μT ±1000μTACL 量程(≤100Hz) ±100μT ±1000μTACH 量程(>100Hz) ±50μT(RMS) ±500μT(RMS)误差温度系数 ±1nT/℃ ±10nT/℃准|确|度DC: ≤0.5% RDGAC: ≤1% RDG主机带宽 50kHz响应频率 ≤2kHz传感器噪音 10 to ≤20pTrms/√Hz at 1Hz预热时间 15 分钟满足缩放规格三维正交性wu差 <0.5°磁滞 <2nT 于 1 x 满量程工作温度范围 -40℃ to +70℃存放温度范围 -40℃ to +85℃探头尺寸 24 mm×24 mm×109mm 微型:20mm*20mm*20mm通讯 USB-C模拟输出 3 通道模拟输出口配套软件 数据读取软件
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第16年