平均粒度测定仪 仪表

平均粒度测定仪 仪表

WLP－208平均粒度测定仪:该仪器是在WLP－205仪器基础上增加了一套压力校正器。在测试中采用该校正器可使粉料压紧到规定的压力上（通用50磅力·吋即22.7kgf·cm）
主要技术指标
粒度测量范围：0.2μm(微米)─50μm(微米)
孔隙度范围：0.25-0.40μm(微米)、0.40-0.80μm(微米)、0.80-0.95μm(微米)
精度：3％
工作环境：相对湿度不大于80％，温度：25±10℃，无腐朽无振动
电源：220v/50-60Hz
功率：30w
重量：12kg
外型尺寸：755*400*260
测试原理：空气透过法
.标准： GB 11107/GB 3249-2009
读取方式：读数板或数显

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