综合接入测试仪

综合接入测试仪

通用指标
规格尺寸：216x109x56mm
重量：<1.5kg
显示屏：彩色5LED，480x272像素
操作方式：触摸
存储：2G SD 卡
可充电锂电池：充电时间：3~4 小时
续航时间：大于 5 小时
运行环境：操作温度：-10~50℃
存储温度：-20~70℃
操作湿度：10%~90%
存储湿度：5%~95%

E1接口技术指标：
发送时钟：内时钟，收时钟
时钟拉偏设置：范围:+/-50ppm 分辨率:0.1ppm 精度:+/-15ppm
时钟频偏测试：范围:+/-1000ppm分辨率:0.1ppm精度:+/-15ppm
信号电平检测：范围:0~37.5dB 精度:2.5dB
接口阻抗：75欧不平衡，120欧平衡
帧结构：非成帧，PCM30,PCM31PCM30CPCM31C
码型：HDB3，AMI
性能分析标准：G.821,G.826,M2100

V系列接口技术指标
V接口类型：V.35,V.24
工作模式：DTEDCE
传输方式：同步
速率：2048K，Nx64K，Nx56K
性能分析标准：G.821

10/100/1000M以太网接口技术指标
帧类型：DIX，802.3SNAP
自定义帧长：40-10000
典型帧长度：64，128，256，512，768，1024，1280，1518
RFC2544测试：吞吐量，时延，丢包率，背对背，
吞吐量测试精度：0.001Mbps
时延测试精度：1us
丢包率测试精度：0.001%
网络层协议类型：IPIPXARPRARPBanyan,DECnetApple TalkDADI自定义
数据环回层次：物理层，链路层，网络层