薄层成像系统 仪表 薄层成像系统 仪表
仪器参数
1,扫描方式：线性扫描，双波长扫描，多通道扫描
2.光源：254/365nm紫外光源、400-700可见光源。
3.分辨率可达10um
4.重现性:≥99%
5. 检测方式：反射法、荧光法。
6、算法：归一法，内标法，外标法（一点直线法，两点曲线法），
7.软件环境：WIN XP/2000/NT，(1200万像素）
8、电子签名 审计追踪
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