薄层成像系统 仪表 薄层成像系统 仪表
仪器参数 1,扫描方式:线性扫描,双波长扫描,多通道扫描 2.光源:254/365nm紫外光源、400-700可见光源。 3.分辨率可达10um 4.重现性:≥99% 5. 检测方式:反射法、荧光法。 6、算法:归一法,内标法,外标法(一点直线法,两点曲线法), 7.软件环境:WIN XP/2000/NT,(1200万像素) 8、电子签名 审计追踪
薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统
薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 薄层成像系统 |