多功能激光椭圆偏振仪 仪表 多功能激光椭圆偏振仪 仪表
实验内容: ●测量薄膜厚度。 ●测量介质折射率。 ●验证马吕斯定律。 ●观察了解光的偏振现象。 仪器特点: ●以分光计为平台,测量薄膜厚度。 ●利用软件进行数据处理。 设备成套性: ●半导体激光器、数字检流计、光电探头、 待测样品、起偏器、检偏器、分光计 (选配)等。 主要技术指标: 测量透明薄膜厚度范围0 - 300nm, 折射率1.30-2.49。 起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0* -360°, 游标读数0.10。 测量精度: +2nm。 入射角ψ1=70° ,K9玻璃折射率n=1.515。 消光系数: 0,空气折射率1。 ●半导体激光器波长λ = 635nm。
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