谷物品质分析仪 仪表 谷物品质分析仪 仪表
检测谷物：小麦，玉米，米，高梁（如需多谷物需额外定制）检测精度：满足行业标准LS/T 6402检测时间：≤100秒（50g样品）检测项目：不完善粒，异种粮等图像像素：2000万像素精度：0.025mm结果展示：提供质量占比，数量占比和图像分类展示检测记录：支持检测记录查询，打印和一键导出环境适应性：温度：-10℃~40℃ 湿度：≤80%RH工作电压：220V 50Hz接口：RJ45，USB3.0扩展性：支持自动化改造和指标定制需求
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