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光学膜厚控制仪 仪表
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产品名称: 光学膜厚控制仪 仪表
产品型号: MN666-GM-X03
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产品特点: 光学膜厚控制仪 仪表
本仪器是相位锁定放大器,用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道,参考信号通道和四阶低Q滤波技术组成,有很强的谐波抑制能力和动态储备,能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位
产品简介

光学膜厚控制仪 仪表

光学膜厚控制仪 仪表


主信号通道:电压单端输入

满程灵敏度:0.5mV~500mV

频率范围:1KHz,±5%

锁相噪声:≦4nV

线性误差:≦1%

零点漂移:0.2%(小时)

参考信号通道:电压单端输入

输入幅度:20mV~700mV

频率范围:1KHz,±5%

相位锁定范围:≧320°

电源电压:220VAC/50Hz

外形尺寸:宽482x高89x深322(mm)/标准2U面板

净重:7.5Kg



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