半导体分立器件测试仪 半导体分立器件测试仪 一、产品特点: 测试晶种覆盖面广、测试精度高、电参数测试全、速度快、有良好的重复性和-一致性、工作稳定,具有保护系统和被测器件的能力,且具有图示功能。测试仪由计算机操控,测试数据可存储打印。除具有点测试功能外,还具有曲线扫描功能( 图示仪功能)。系统软件功能全、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定、硬件故障率低,在实际测试应用中各项技术指标均可达到器件手册技术指标 二、测试参数: 1:二极管 VF、IR. BVR 随机附件 2.稳压 (齐纳)二极管 VF、IR、BVZ 3.晶体管 Transistor (NPN型/PNP型) VBE、ICB0、LCE0、 IEB0、 BVCE0、 BWCBO、 BVEBO、 hFE. VCESAT. VBESAT、VBEON 4.可控硅整流器 (晶闸管) IGT、VGT、IH、 IL。VTM 5. 场效应管 IGSSF、IGSSR、 IGSSR、 IGSS. VDSON、 RDSON、 VGSTH、IDSS、IDON、 gFS. BVGSS . 6。光电耦合器 VF。IR、CTR、ICE0、 BVCE0、 VCESAT 7.三端稳压器 Vo、Sv. ID、IDV .及国标要求。
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