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低频介电常数及介质损耗测试系统
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产品名称: 低频介电常数及介质损耗测试系统
产品型号: M342436
产品报价:
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产品特点: 低频介电常数及介质损耗测试系统
库号:M342436
系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。
产品简介

低频介电常数及介质损耗测试系统

低频介电常数及介质损耗测试系统

低频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、介电常数测试主机、组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及电工委yuan会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。

一 本设备适用标准
1 GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
3 ASTM-D150-介电常数测试方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法

二 介电常数/介质损耗测试主机:

2  M342436/CF89-AS2878 参数

测量功能
测试频率50 Hz-1MHz,10mHz分辨率
 
测试参数|Z|, |Y|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ,DCR
基本测量准确度0.05%
等效电路串联, 并联
数学功能值偏差, 比偏差
量程方式自动, 保持, 手动选择
触发方式内部, 手动, 外部, 总线
测量速度(≥1kHz)快速: 80次/秒, 中速: 30次/秒, 慢速: 3次/秒
平均次数1—255
延时时间0—60s, 以1ms步进
校准功能开路/ 短路/ 负载
测试端配置五端
列表扫描10点列表扫描功能
显示方式直读,Δ,Δ%,V/I(被测电压/电流监视)
显示器800×480 RGB7英寸16: 9 TFT LCD显示器
测试信号
输出阻抗30 Ω, 100 Ω, 50Ω, 10 /CC可选择
测试信号电平正常:  5mV-2V,  1mV步进
恒电平:10mV-1V, 1mV步进
偏置源内部0V, 1.5V, 2V
选配UC6802A:±10V(±100mA)直流偏置电流
UC6802B:0-1A直流偏置电流
显围
|Z|, R, X0.01mΩ —99.9999 MΩ
DCR0.01 mΩ —99.9999 MΩ
|Y|, G, B0.00001µS —99.9999 S
C0.00001 pF —9.9999 F
L0.00001 µH —9999.99 H
D0.00001 —9.9999
Q0.00001 —9999.9
θ(DEG)-179.999º —179.999 º
θ(RAD)-3.14159 —3.14159
其他
比较器功能十档:(九档合格,一档不合格),另有一个附属档AUX
存储器10组内部仪器设定供存储/调用
接口标配RS232C、HANDLER、USB HOST,耳机接口

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