高频光电导少数载流子寿命测试仪

高频光电导少数载流子寿命测试仪

（1）电阻率测量范围ρ≥3Ω·cm，寿命测试范围：5~10000μs

（2）光脉冲发生装置

重复频率＞25次/s 脉宽≥60μs 光脉冲关断时间＜1μs

红外光源波长：1.06μm（测量硅单晶），如测量锗单晶寿命需另行配置适当波长的光源。

脉冲电源：～12A

（1）电阻率测量范围ρ≥3Ω·cm，寿命测试范围：5~10000μs

（2）光脉冲发生装置

重复频率＞25次/s 脉宽≥60μs 光脉冲关断时间＜1μs

红外光源波长：1.06μm（测量硅单晶），如测量锗单晶寿命需另行配置适当波长的光源。

脉冲电源：～12A

（1）电阻率测量范围ρ≥3Ω·cm，寿命测试范围：5~10000μs

（2）光脉冲发生装置

重复频率＞25次/s 脉宽≥60μs 光脉冲关断时间＜1μs

红外光源波长：1.06μm（测量硅单晶），如测量锗单晶寿命需另行配置适当波长的光源。

脉冲电源：～12A

（1）电阻率测量范围ρ≥3Ω·cm，寿命测试范围：5~10000μs

（2）光脉冲发生装置

重复频率＞25次/s 脉宽≥60μs 光脉冲关断时间＜1μs

红外光源波长：1.06μm（测量硅单晶），如测量锗单晶寿命需另行配置适当波长的光源。

脉冲电源：～12A

（1）电阻率测量范围ρ≥3Ω·cm，寿命测试范围：5~10000μs

（2）光脉冲发生装置

重复频率＞25次/s 脉宽≥60μs 光脉冲关断时间＜1μs

红外光源波长：1.06μm（测量硅单晶），如测量锗单晶寿命需另行配置适当波长的光源。

脉冲电源：～12A